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この検索内の頻出タグ: 12-^:1 14.8^:1 28-nm^:1 6.0^:1 8.0^:1 characterizing^:1 cross^:1 mev^:1 neutrons^:1 sections^:1 seu^:1 srams^:1

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国際会議: [1] K. Takami, Y. Gomi, S. Abe, W. Liao, S. Manabe, T. Matsumoto, and M. Hashimoto, "Characterizing SEU Cross Sections of 12- and 28-nm SRAMs for 6.0, 8.0, and 14.8 MeV Neutrons," Proceedings of International Reliability Physics Symposium (IRPS), March 2023. [pdf]