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論文誌
[1] S. Manabe, Y. Watanabe, W. Liao, M. Hashimoto, K. Nakano, H. Sato, T. Kin, S. Abe, K. Hamada, M. Tampo, and Y. Miyake, "Negative and Positive Muon-Induced Single Event Upsets in 65-nm UTBB SOI SRAMs," IEEE Transactions on Nuclear Science, volume 65, number 8, pages 1742--1749, August 2018. [pdf]