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| 佐方剛, 成木保文, 奥村隆昌, 金本俊幾, 増田弘生, 佐藤高史, 橋本昌宜, 古川且洋, 田中正和, 山中俊輝, "CMOSドライバ回路遅延のNBTI劣化ばらつき特性解析," 情報処理学会DAシンポジウム, 2011年9月. | |
| ID | 306 |
| 分類 | 国内会議(査読付き) |
| タグ | |
| 表題 (title) |
CMOSドライバ回路遅延のNBTI劣化ばらつき特性解析 |
| 表題 (英文) |
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| 著者名 (author) |
佐方剛,成木保文,奥村隆昌,金本俊幾,増田弘生,佐藤高史,橋本昌宜,古川且洋,田中正和,山中俊輝 |
| 英文著者名 (author) |
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| キー (key) |
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| 定期刊行物名 (journal) |
情報処理学会DAシンポジウム |
| 定期刊行物名 (英文) |
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| 巻数 (volume) |
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| 号数 (number) |
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| ページ範囲 (pages) |
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| 刊行月 (month) |
9 |
| 出版年 (year) |
2011 |
| Impact Factor (JCR) |
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| URL |
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| 付加情報 (note) |
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| 注釈 (annote) |
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| 内容梗概 (abstract) |
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| 論文電子ファイル | 利用できません. |
| BiBTeXエントリ |
@article{id306,
title = {CMOSドライバ回路遅延のNBTI劣化ばらつき特性解析},
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