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この検索内の頻出タグ: 65-nm:1 angle:1 bulk:1 cross:1 fdsoi:1 impact:1 incidence:1 muon-induced:1 negative:1 sections:1 seu:1 srams:1

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論文誌
[1] W. Liao, M. Hashimoto, S. Manabe, Y. Watanabe, S. Abe, M. Tampo, S. Takeshita, and Y. Miyake, "Impact of the Angle of Incidence on Negative Muon-Induced SEU Cross Sections of 65-nm Bulk and FDSOI SRAMs," IEEE Transactions on Nuclear Science, volume 67, number 7, 1566 -- 1572, July 2020. [pdf]