Search: 簡易 | 詳細 || Language: 英語 | 日本語 || ログイン |

1 件の該当がありました. : このページのURL : HTML


国際会議
[1] T. Uemura, T. Kato, H. Matsuyama, and M. Hashimoto, "Soft-Error in SRAM at Ultra Low Voltage and Impact of Secondary Proton in Terrestrial Environment," IEEE Nuclear and Space Radiation Effects Conference (NSREC), July 2013.