Search: 簡易 | 詳細 || Language: 英語 | 日本語 || ログイン |

この検索内の頻出タグ: circuits:1 detection:1 devices:1 error:1 pvt-induced:1 reconfigurable:1 redundancy:1 replica:1 through:1 time:1 timing:1

1 件の該当がありました． : このページのURL : HTML


論文誌
[1] D. Alnajjar, Y. Mitsuyama, M. Hashimoto, and T. Onoye, "PVT-induced Timing Error Detection Through Replica Circuits and Time Redundancy in Reconfigurable Devices," IEICE Electronics Express (ELEX), volume 10, number 5, April 2013. [184.pdf]