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論文誌
[1] Yang Li, Yifan Deng, Jiaxing Yang, Jincheng Hou, Haojie Bai, Zhiliang Hu, Guohe Zhang, Yukinobu Watanabe, Chaohui He, and Masanori Hashimoto, "An Investigation of Single Event Effects in DDR5 Memory Induced by Atmospheric Neutrons," IEEE Transactions on Nuclear Science, 採録済.
研究会・全国大会等
[1] 五味唯美, 高見一総, 水野るり惠, 新倉潤, Yifan DENG, 川瀬頒一郎, 渡辺幸信, 安部晋一郎, 廖望, 反保元伸, 梅垣いづみ, 竹下聡史, 下村浩一郎, 三宅康博, 橋本昌宜, "12-nm FinFETおよび28-nm プレナー型SRAMのミューオン起因ソフトエラー断面積の評価," 電子情報通信学会 集積回路研究会, 2023年4月.