この検索内の頻出タグ:

4 件の該当がありました． : このページのURL : HTML

研究会・全国大会等

[1] 川瀬 頌一郎，石谷 壮史，浅利 駿介, 石田 勝彦, 梅垣 いづみ, 河村 成肇, 五味 唯美, 下條 暖人, 下村 浩一郎, ストラッサー パトリック, 竹下 聡史, 反保 元伸, 友野 大, 新倉 潤, 橋本 昌宜, 松崎 禎市郎, 水野 るり惠, 明午 伸一郎, 森 毬恵, 山口 雄司, 横田 佳祐, 吉川 陽人, "J-PARC MLFにおける低運動量負ミューオンビームを用いたミューオン原子核捕獲後の放出荷電粒子測定法," 日本原子力学会 2026年秋の大会, 採録済.

[2] 水野るり惠, 新倉潤, 松崎禎市郎, 齋藤岳志, 安部晋一郎, 石田勝彦, 梅垣いづみ, 大石将也, 川瀬頌一郎, 川田哲平, 河村成肇, 北藤健太郎, 佐藤朗, Patrick Strasser, 下村浩一郎, 竹下聡史, 反保元伸, 友野大, 橋本昌宜, Adrian D Hillier, 福田宏哉, 湊太志, 山口雄司, "Siミューオン原子核捕獲反応による核変換分岐比の測定," 日本物理学会 第79回年次大会, 2024年9月.

[3] 五味唯美, 高見一総, 水野るり惠, 新倉潤, Yifan DENG, 川瀬頒一郎, 渡辺幸信, 安部晋一郎, 廖望, 反保元伸, 梅垣いづみ, 竹下聡史, 下村浩一郎, 三宅康博, 橋本昌宜, "12-nm FinFETおよび28-nm プレナー型SRAMのミューオン起因ソフトエラー断面積の評価," 電子情報通信学会 集積回路研究会, 2023年4月.

[4] 川瀬頌一郎, 福田 宏哉, 渡辺幸信, 新倉潤, 橋本昌宜, "半導体デバイスにおける宇宙線ミュオン起因ソフトエラー発生率評価に向けたミュオン原子核捕獲反応測定計画 (1)概要," 日本原子力学会2021年秋の大会, 2021年9月.