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著者名 (author) 表題 (title) 論文誌/会議名 巻号 ページ範囲 (pages) 出版年月 JCR/採択率 File
研究会・全国大会等
 五味唯美, 高見一総, 水野るり惠, 新倉潤, Yifan DENG, 川瀬頒一郎, 渡辺幸信, 安部晋一郎, 廖望, 反保元伸, 梅垣いづみ, 竹下聡史, 下村浩一郎, 三宅康博, 橋本昌宜
 12-nm FinFETおよび28-nm プレナー型SRAMのミューオン起因ソフトエラー断面積の評価
 電子情報通信学会 集積回路研究会
2023年4月