研究会・全国大会等
[1] 五味唯美, 高見一総, 水野るり惠, 新倉潤, Yifan DENG, 川瀬頒一郎, 渡辺幸信, 安部晋一郎, 廖望, 反保元伸, 梅垣いづみ, 竹下聡史, 下村浩一郎, 三宅康博, 橋本昌宜, "12-nm FinFETおよび28-nm プレナー型SRAMのミューオン起因ソフトエラー断面積の評価," 電子情報通信学会 集積回路研究会, 2023年4月.
[2] 川瀬頌一郎, 福田 宏哉, 渡辺幸信, 新倉潤, 橋本昌宜, "半導体デバイスにおける宇宙線ミュオン起因ソフトエラー発生率評価に向けたミュオン原子核捕獲反応測定計画 (1)概要," 日本原子力学会2021年秋の大会, 2021年9月.